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BELOTO, A. F.; ROSA, R. R.; LEITE, N. F.; KURANAGA, C.; FABBRI, M.; UEDA, M. Correlation between Raman spectra measurements and gradient pattern analysis of annealed porous silicon implanted with nitrogen by plasma immersion íon implantation. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON AMORPHOUS & MICROCRYSTALLINE SEMICONDUCTORS: SCIENCE & TECHNOLOGY, 20., 2003, Campos do Jordão. Proceedings... 2003.
Como Fazer a Citação no Texto (por autor/ano)
... como proposto por Beloto et al. (2003).
... pode ser encontrada na literatura (BELOTO et al., 2003).